Li Y., Xiong X., Qiao Y., Selvamanickam V., Reeves J.L., Chen Y., Xie Y.-Y., Lenseth K.P., Schmidt R.M., Rar A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, IBAD process, buffer layers, films epitaxial, high rate process, fabrication, length
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, stress effects, fatigue behavior, mechanical properties, IBAD process, RABITS process, coated conductors multifilamentary, crack formation, MOD process, MOCVD process, comparison, critical current density, degradation studies, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Iwasa Y., Selvamanickam V., Lee H., Hahn S.-Y., Bascunan J., Jankowski J., Reeves J.(jreeves@igc.com), Knoll A.(aknoll@igc.com), Xie Y.-Y.(yxie@igc.com)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, stability, quench protection, test results
Maiorov B., Iwasa Y., Solovyov V., Suenaga M., Cheggour N., Clickner C., Ekin J.W., Weber C., Selvamanickam V., Xie Y.-Y.(yxie@igc.com), Knoll A., Chen Y., Li Y., Xiong X., Qiao Y., Hou P., Reeves J., Salagaj T., Lenseth K., Civale L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, stabilizing layers, substrate Hastelloy, IBAD process, MOCVD process, electroplating process, substrate Ni-W, RABITS process, MOD process, laminations, strain effects, critical current, critical current density, n-value, experimental results, critical caracteristics, fabrication, mechanical properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.